Óptica de microscopía electrónica de barrido.

Óptica de microscopía electrónica de barrido., Total: 362 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Óptica de microscopía electrónica de barrido. son: Equipo óptico, Vocabularios, Metales no ferrosos, Medidas lineales y angulares., Calidad del aire, Termodinámica y mediciones de temperatura., Óptica y medidas ópticas., Dispositivos de visualización electrónica., Materiales de construcción, Fibras textiles, Química analítica, Educación, Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo medico, Protección contra el crimen, Pinturas y barnices, pruebas de metales, Optoelectrónica. Equipo láser, Cinematografía, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., ingenieria electrica en general, Redes de transmisión y distribución de energía., Física. Química, Ciencias de la información. Publicación, Juegos de caracteres y codificación de información., Productos de hierro y acero., Cerámica, Pesca y cría de peces., Aplicaciones de la tecnología de la información., Transporte, Combustibles, Ingredientes de pintura.

Professional Standard - Commodity Inspection, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

Group Standards of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

T/SPSTS 032-2023 Especificaciones generales para microscopía electroquímica de barrido.
T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido
T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
T/SPSTS 030-2023 Medición del tamaño de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
T/CNIA 0161-2023 Método para inspeccionar la microestructura y morfología de aluminio deformado y aleaciones de aluminio. Método de microscopía electrónica de barrido.
T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
T/CEC 616-2022 Especificaciones técnicas para robots voladores de escaneo láser para líneas de transmisión de energía
T/CEC 448-2021 Reglamento técnico para la operación de escaneo láser de vehículos aéreos no tripulados de líneas aéreas de transmisión
T/CES 183-2022 Especificación de la recopilación de datos mediante escaneo láser de vehículos aéreos no tripulados de ala fija para líneas aéreas de transmisión

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D 2713-2021 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS P ISO 16971:2020 Instrumentos oftálmicos: tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
KS C IEC TR 61948-3:2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
KS C IEC TR 61948-3:2017 Instrumentación de medicina nuclear ─ Pruebas de rutina ─ Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
JIS B 7208:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de escaneo de imágenes en movimiento de 16 mm
JIS B 7207:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de escaneo de películas de 35 mm, tipo servicio
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2024) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E766-14e1
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2023) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E3284-23 Standard Practice for Training in the Forensic Examination of Primer Gunshot Residue (pGSR) Using Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM/EDS)
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1372-93(2012)
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas

International Organization for Standardization (ISO), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO/CD 16971-1 Instrumentos oftálmicos. Tomógrafos de coherencia óptica. Parte 1: Tomógrafos de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
ISO/DIS 16971-1:2011 Instrumentos oftálmicos. Tomógrafos de coherencia óptica. Parte 1: Tomógrafos de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 11775:2015
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 9: Escáneres láser terrestres.
ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
JJF 1951-2021 Especificación de calibración para sistemas de medición ópticos 3D basados en escaneo de luz estructurada

Professional Standard - Machinery, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 5478-1991 Espectrómetro fotoeléctrico de lectura directa de barrido manual
JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
GB/T 17362-1998
GB/T 17359-1998
GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 43661-2024 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Definición y calibración de la resolución espacial de la microscopía de sonda de barrido eléctrica (ESPM, como SSRM y SCM) para aplicaciones como imágenes de dopantes 2D
GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X

British Standards Institution (BSI), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
23/30451302 DC Borrador BS ISO 16971-1 Instrumentos oftálmicos. Tomografías de coherencia óptica. Parte 1: Tomografías de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos - Escáneres láser terrestres
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS IEC 62906-5-5:2022 Pantallas láser: métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
PD IEC/TR 61948-3:2018 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Tomógrafos por emisión de positrones
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 11715-1:1998 Óptica oftálmica - Formato de archivos de datos digitales para la transferencia de datos para el perfilado de lentes para gafas - Trazadores bidimensionales
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
21/30432306 DC BS EN IEC 62906-5-5. Pantallas láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
20/30423331 DC BS EN IEC 62906-5-5. Pantallas láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de pantallas láser de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS EN ISO 10685-2:2016 Óptica oftálmica. Catálogo electrónico e identificación de monturas de gafas y gafas de sol. Información comercial
BS EN ISO 10685-2:2012 Óptica oftálmica. Catálogo electrónico e identificación de monturas de gafas y gafas de sol. Información comercial
BS EN ISO 10685-3:2012 Óptica oftálmica. Catálogo electrónico e identificación de monturas de gafas y gafas de sol. Información técnica
PD IEC TR 61948-2:2019 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único.
18/30363457 DC BS EN 62906-5-5. Dispositivos de visualización láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de dispositivos de proyección directa de retina con escaneo de trama
19/30402600 DC BSIEC 62906-5-5. Dispositivos de visualización láser. Parte 5-5. Métodos de medición óptica de dispositivos de proyección directa de retina con escaneo de trama
BS 4793:1972(2011) Recomendaciones para especificar el rendimiento óptico de lentes para cámaras de televisión
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.

GSO, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

BH GSO ISO 27911:2016 Análisis químico de superficies -- Microscopía de sonda de barrido -- Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
GSO ISO 27911:2013 Análisis químico de superficies -- Microscopía de sonda de barrido -- Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
GSO ISO 11039:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
BH GSO ISO 11039:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
OS GSO ISO 11039:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
GSO ISO 28600:2013 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
BH GSO ISO 28600:2016 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
GSO ISO 16971:2017 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
OS GSO ISO 16971:2017 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
GSO ISO 11775:2021 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de constantes elásticas normales en voladizo.
BH GSO ISO 11775:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de constantes elásticas normales en voladizo.
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
GSO ISO 17123-6:2007 Óptica e instrumentos ópticos- Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos- Parte 6: Láseres giratorios
GSO ISO 11952:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
BH GSO ISO 11952:2017 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
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GSO ISO 16331-1:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de laboratorio para probar instrumentos de topografía y construcción. Parte 1: Rendimiento de los distanciómetros láser portátiles.
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KR-KS, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
KS P ISO 16971-2020 Instrumentos oftálmicos: tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano.
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
KS C IEC TR 61948-3-2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.

Professional Standard - Education, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

SCC, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
DANSK DS/ISO 16971:2015 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
BS PD IEC/TR 61948-3:2018 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina-Tomógrafos por emisión de positrones
BS PD IEC/TR 61948-3:2005 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina-Tomógrafos por emisión de positrones
ISO 18115-2:2010/DAmd 1 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido. Enmienda 1.
DANSK DS/IEC TR 61948-3:2018 Instrumentación de medicina nuclear – Pruebas de rutina – Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
DANSK DS/IEC/TR 61948-3:2005 Instrumentación de medicina nuclear – Pruebas de rutina – Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
BS PD IEC TR 61948-2:2019 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina: cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único

Professional Standard - Public Safety Standards, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)

工业和信息化部, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser
YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Professional Standard - Petroleum, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Association of German Mechanical Engineers, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas
VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 Sistemas ópticos de medición 3D: sistemas de visualización múltiple basados en escaneo de áreas
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

国家能源局, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
NB/T 35109-2018 Procedimientos de medición por escaneo láser tridimensional para proyectos hidroeléctricos

未注明发布机构, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

VDI VDE 5565 Blatt-1 E:2022-02 Tomografía de coherencia óptica (OCT) Descripciones de procesos
VDI VDE 5565 Blatt 1-2023 Tomografía de coherencia óptica (OCT): descripciones de procesos
JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
SEMI F73-0309-2009 MÉTODO DE PRUEBA PARA LA EVALUACIÓN POR MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (SEM) DEL ESTADO DE LA SUPERFICIE HUMEDA DE COMPONENTES DE ACERO INOXIDABLE

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Professional Standard - Medicine, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

YY/T 1895-2023 Dispositivo de obtención de imágenes por tomografía de coherencia óptica intravascular

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

VDI/VDE 2634 Blatt 2-2011 Sistemas ópticos de medición 3D - Sistemas ópticos basados en escaneo de áreas
VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3866 Blatt 5-2003 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI/VDE 2634 Blatt 2-2000 Optische 3D-Messsysteme - Systeme mit flaechenhafter Antastung
VDI 3861 Blatt 2-1994 Messen anorganischer faserfoermiger Partikeln im stroemenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-1996 Messen anorganischer faserfoermiger Partikeln im stroemenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-2006 Messen von Emissionen - Messen anorganischer faserfoermiger Partikeln im stroemenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3877 Blatt 1-2009 Contaminación del aire interior - Medición del polvo depositado en las superficies - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI/VDE 2617 Blatt 6.2-1999 Precisión de las máquinas de medición de coordenadas - Parámetros característicos y su control - Máquinas de medición de coordenadas con sondas ópticas - Sensores ópticos para la medición de distancias unidimensionales
VDI 3492-2011 Medición de la contaminación del aire interior - Medición de emisiones - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI/VDE 2634 Blatt 3-2006 Sistemas ópticos de medición 3D: sistemas de visualización múltiple basados en escaneo de áreas

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido
GJB 8381-2015 Método combinado de fotografía de rayas e interferometría láser para pruebas de cilindros de explosivos.

Association Francaise de Normalisation, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF S12-130*NF ISO 16971:2015 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica para el segmento posterior del ojo humano
NF ISO 16971:2015 Instrumentos oftálmicos - Tomógrafo de coherencia óptica del segmento posterior del ojo humano
NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF S11-560:1998 Óptica oftálmica. Formato de archivos de datos digitales para la transferencia de datos para el perfilado de lentes para gafas. Parte 1: trazadores bidimensionales.
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

SE-SIS, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
EN ISO 10685-3:2012 Óptica oftálmica. Catálogo electrónico e identificación de monturas de gafas y gafas de sol. Parte 3: Información técnica (ISO 10685-3:2012)

RU-GOST R, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 2. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
GOST R 56123-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.

Danish Standards Foundation, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
DS/IEC/TR 61948-3:2006

German Institute for Standardization, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN 66223-5:1985 Fuentes para reconocimiento óptico de caracteres; formato para escáner de mano
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
DIN 6855-4:2016-11 Pruebas de constancia de instrumentos de medicina nuclear - Parte 4: Tomógrafos por emisión de positrones (PET)

ES-UNE, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

未注明发布机构, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

VDI VDE 5565 Blatt-1 E:2022-02 Tomografía de coherencia óptica (OCT) Descripciones de procesos
VDI VDE 5565 Blatt 1-2023 Tomografía de coherencia óptica (OCT): descripciones de procesos
JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
SEMI F73-0309-2009 MÉTODO DE PRUEBA PARA LA EVALUACIÓN POR MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (SEM) DEL ESTADO DE LA SUPERFICIE HUMEDA DE COMPONENTES DE ACERO INOXIDABLE

Association for Information and Image Management (AIIM), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

AIIM MS52-1991 Práctica recomendada para los requisitos y características de los documentos destinados al escaneo óptico

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido

AENOR, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Óptica de microscopía electrónica de barrido.

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

GOSTR, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GOST R 58566-2019 Óptica y fotónica. Lentes para sistemas ópticos electrónicos. Métodos de prueba
PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

AT-ON, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Professional Standard - Electricity, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DL/T 1346-2014 Código de funcionamiento del escaneo láser de helicóptero para línea de transmisión.
DL/T 1346-2021 Reglamento técnico para la operación de escaneo láser con helicópteros de líneas aéreas de transmisión.

GOST, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

GOST R ISO 14966-2022 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
GOST R 70038-2022 Óptica y fotónica. Lentes para sistemas óptico-electrónicos. Métodos de medición de la distancia focal
GOST R 70213-2022 Óptica y fotónica. Lentes para sistemas ópticos electrónicos. Irradiancia relativa en el campo de la imagen y métodos de medición del coeficiente de viñeteado.
GOST R 71006-2023 Óptica y fotónica. Lentes para sistemas ópticos electrónicos. Métodos para medir el diámetro de la pupila de entrada y determinar la apertura relativa.

BE-NBN, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Military and Civilian Products, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Energy, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DL/T 2333-2021 Reglamento técnico para la medición terrestre por escaneo láser tridimensional de proyectos de transmisión y transformación de energía.
NB/SH/T 0902-2015 Método de prueba estándar para medir la separación de fases inducida por n-heptano de fueloil pesado que contiene asfaltenos como número de separabilidad mediante un dispositivo de escaneo óptico

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

DB37/T 420.2-2004 Protocolo de diagnóstico de la enfermedad del dedo de escorpión en peces de maricultura, parte 2: método de diagnóstico por microscopía electrónica de barrido

International Electrotechnical Commission (IEC), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

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American National Standards Institute （ANSI), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

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Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Óptica de microscopía electrónica de barrido.

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CEN - European Committee for Standardization, Óptica de microscopía electrónica de barrido.

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