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DE주사전자현미경 광학
모두 299항목의 주사전자현미경 광학와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 주사전자현미경 광학와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 어휘, 비철금속, 길이 및 각도 측정, 공기질, 열역학 및 온도 측정, 광학 및 광학 측정, 전자 디스플레이 장치, 섬유 섬유, 분석 화학, 기르다, 표면 처리 및 도금, 의료 장비, 범죄 예방, 페인트 및 바니시, 금속 재료 테스트, 광전자공학, 레이저 장비, 영화, 건축 자재, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 전기공학종합, 전송 및 배전망, 물리학, 화학, 정보학, 출판, 문자 세트 및 메시지 인코딩, 철강 제품, 세라믹, 낚시와 양식업, 정보 기술 응용, 운송, 연료, 페인트 성분.
Professional Standard - Commodity Inspection, 주사전자현미경 광학
Group Standards of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경 광학
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주사전자현미경 광학
International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경 광학
American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경 광학
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Machinery, 주사전자현미경 광학
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경 광학
British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경 광학
- BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
- BS ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 대한 용어
- BS ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
- BS ISO 18115-2:2021 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 표면 화학 분석 용어집
- BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
- BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
- BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
- BS ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어입니다.
- BS ISO 11775:2015 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 일반적인 캔틸레버 스프링 상수 결정
- BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
- BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
- BS ISO 17123-9:2018 측지 및 측량 장비 지상 레이저 스캐너에 대한 광학 및 광학 장비 테스트 현장 절차
- BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- BS IEC 62906-5-5:2022 레이저 디스플레이 래스터 스캐닝 망막 직접 투영 레이저 디스플레이용 광학 측정 방법
- BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
- PD IEC/TR 61948-3:2018 핵의학 기기 정기 테스트 양전자 방출 단층 촬영
- BS ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
- BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
- 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
- BS EN ISO 11715-1:1998 안과 광학안경 렌즈 단면 데이터 전송을 위한 디지털 데이터 파일 형식입니다.2차원 렌더링 도구
- BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
- BS ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
- 18/30375050 DC BS ISO 14966 대기 중 무기 섬유 입자의 수치 농도 측정 주사 전자 현미경
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
- BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
- 21/30432306 DC BS EN IEC 62906-5-5 레이저 디스플레이 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 레이저 디스플레이를 위한 광학 측정 방법
- 20/30423331 DC BS EN IEC 62906-5-5 레이저 디스플레이 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 레이저 디스플레이를 위한 광학 측정 방법
- BS EN ISO 10685-2:2016 안과광학, 안경테, 선글라스 전자카탈로그, 감정서, 상업정보
- BS EN ISO 10685-2:2012 안과광학, 안경테, 선글라스 전자카탈로그, 감정서, 상업정보
- BS EN ISO 10685-3:2012 안과 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 기술 정보
- PD IEC TR 61948-2:2019 핵의학 기기 정기 테스트 섬광 카메라 및 단일 광자 방출 컴퓨터 단층 촬영 이미징
- 18/30363457 DC BS EN 62906-5-5 레이저 디스플레이 장비 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 장치를 위한 광학 측정 방법
- 19/30402600 DC BS IEC 62906-5-5 레이저 디스플레이 장비 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 장치를 위한 광학 측정 방법
- BS EN ISO 17751-2:2023 주사전자현미경을 이용한 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량분석
KR-KS, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Education, 주사전자현미경 광학
工业和信息化部, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Public Safety Standards, 주사전자현미경 광학
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경 광학
Association of German Mechanical Engineers, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Petroleum, 주사전자현미경 광학
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
国家能源局, 주사전자현미경 광학
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Judicatory, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Medicine, 주사전자현미경 광학
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경 광학
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 주사전자현미경 광학
Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경 광학
SE-SIS, 주사전자현미경 광학
European Committee for Standardization (CEN), 주사전자현미경 광학
RU-GOST R, 주사전자현미경 광학
Danish Standards Foundation, 주사전자현미경 광학
German Institute for Standardization, 주사전자현미경 광학
ES-UNE, 주사전자현미경 광학
Association for Information and Image Management (AIIM), 주사전자현미경 광학
未注明发布机构, 주사전자현미경 광학
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 주사전자현미경 광학
AENOR, 주사전자현미경 광학
Lithuanian Standards Office , 주사전자현미경 광학
GOSTR, 주사전자현미경 광학
AT-ON, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Electricity, 주사전자현미경 광학
BE-NBN, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Military and Civilian Products, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Energy, 주사전자현미경 광학
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 광학
International Electrotechnical Commission (IEC), 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Civil Aviation, 주사전자현미경 광학
American National Standards Institute （ANSI), 주사전자현미경 광학
未注明发布机构, 주사전자현미경 광학
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Aviation, 주사전자현미경 광학
Professional Standard - Nuclear Industry, 주사전자현미경 광학
Indonesia Standards, 주사전자현미경 광학
PL-PKN, 주사전자현미경 광학
CEN - European Committee for Standardization, 주사전자현미경 광학