Empfindlichkeitstest

Für die Empfindlichkeitstest gibt es insgesamt 184 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Empfindlichkeitstest die folgenden Kategorien: Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Diskrete Halbleitergeräte, Anwendungen der Informationstechnologie, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Vibrations-, Schock- und Vibrationsmessungen, medizinische Ausrüstung, Telekommunikation umfassend, Elektronische Geräte.

Military Standards (MIL-STD), Empfindlichkeitstest

DOD A-A-53918-1989 Projektor, Sehschärfetest

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Empfindlichkeitstest

TIA TSB62-12-2001 ITM-12-Mikrobiegeempfindlichkeitstestmethoden

TIA - Telecommunications Industry Association, Empfindlichkeitstest

TSB62-12-2001 ITM-12-Mikrobiegeempfindlichkeitstestmethoden

SCC, Empfindlichkeitstest

ESD SP5.3.2-2008 Empfindlichkeitsprüfung auf SDM-Komponentenebene (Socked Device).
ESD SP5.3.2-2013 Empfindlichkeitstests – Komponentenebene des Socketed Device Model (SDM).
ESD STM5.5.1-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
ESD STM5.5.1-2016 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Geräteebene
ESD STM5.5.1-2008 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
ESD SP5.5.2-2007 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Sehr schneller Übertragungsleitungsimpuls (VF-TLP) – Komponentenebene
ESD SP5.4.1-2022 Für Latch-Up-Empfindlichkeitstests von CMOS/BiCMOS-integrierten Schaltkreisen Transient Latch-Up Testing Device Level
ESD SP5.4.1-2017 Für Latch-up-Empfindlichkeitstests von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Geräteebene für transiente Latch-up-Tests
DIN IEC 62615 E:2009 Entwurf eines Dokuments – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene (IEC 47/2006/CDV:2008)
DANSK DS/ISO 16063-34:2020 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 34: Prüfung der Empfindlichkeit bei festgelegten Temperaturen
ESD SP14.5-2015 Standardpraxis der ESD Association für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Nahfeld-Immunitätsprüfung – Komponenten-/Modul-/PCB-Ebene
ESD SP14.5-2021 Standardpraxis der ESD Association für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Nahfeld-Immunitätsprüfung – Komponenten-/Modul-/PCB-Ebene
08/30182517 DC BS ISO 16063-31. Verfahren zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 31. Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
ESD SP5.1.3-2017 Zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung am menschlichen Körpermodell (HBM) – Methode der Komponentenebene A zur zufälligen Auswahl von Stiftpaaren
DANSK DS/EN 60749-26:2014 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
CEI EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
CEI EN 60749-26:2016 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
DANSK DS/EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
DANSK DS/EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
DANSK DS/EN 60749-27/A1:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
CEI EN 60749-27/A1:2007 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) Maschinenmodell (MM)
CEI EN 60749-27:2007 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) Maschinenmodell (MM)
CEI EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene
DIN EN 60749-27/A1 E:2011 Dokumententwurf – Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 47/2107/CDV:2011); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006/FprA1:2011
DIN EN 60749-26 E:2017 Dokumententwurf – Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM) (IEC 47/2343/CDV:2017); Deutsche Fassung prEN 60749-26:2017
DIN EN 60749-28:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (IEC 60749-28:2017); Deutsche Fassung EN 60749-28:2017

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Empfindlichkeitstest

KS C IEC PAS 62179-2003(2008) Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
KS C IEC PAS 62179-2013 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
KS C IEC PAS 62180-2013 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
KS B ISO 5347-15-2014(2019) Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
KS B ISO 5347-15:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
KS B ISO 5347-19:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
KS B 0713-15-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
KS B ISO 16063-33:2020 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
KS B 0713-19-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
KS B ISO 5347-16-2014(2019) Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
KS B ISO 5347-15-2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
KS B 0713-18-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
KS B 0713-17-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit
KS B ISO 5347-17-2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit
KS B 0713-11-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 11: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
KS B 0713-16-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
KS B ISO 5347-13:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
KS B ISO 5347-16:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
KS B 0713-12-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 12: Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
KS B ISO 5347-16-2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
KS B ISO 5347-13-2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
KS B ISO 5347-18:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
KS B 0713-13-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit

ESD - ESD ASSOCIATION, Empfindlichkeitstest

TR5.4-03-2011 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung Latch-Up-Empfindlichkeitsprüfung von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen Transiente Latch-up-Prüfung – Transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene
TR5.4-04-2013 Testen der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Testen des transienten Latch-Ups
SP5.5.1-2004 Empfindlichkeitsprüfung der TLP-Komponentenebene (Transmission Line Pulse).
ESD DS5.3:1993 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung beim Charged Device Model (CDM).
SP5.3.2-2004 Sensitivity Testing Socketed Device Model (SDM) Component Level
STM5.5.1-2008 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene
S5.3.1-2009 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Charged Device Model (CDM) – Komponentenebene
STM5.5.1-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene
STM5.5.1-2016 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Geräteebene
JS-002-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Charged Device Model (CDM) – Geräteebene
STM 5.3.1-1999 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung auf Komponentenebene des Charged-Divice-Modells (cdm).
TR5.5-04-2018 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Transmission Line Pulse (TLP) – Benutzer- und Anwendungshandbuch
ESD DS5.3.1:2007 Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Charged Device Model (CDM) – Component Level
SP5.5.2-2007 ELEKTROSTATISCHE ENTLADUNGSEMPFINDLICHKEITSPRÜFUNG – SEHR SCHNELLER ÜBERTRAGUNGSLEITUNGSPULS (VF-TLP) – KOMPONENTENEBENE
TR5.5-03-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Very-Fast Transmission Line Pulse (VF-TLP) – Round-Robin-Analyse
SP5.2.2-2012 The Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Machine Model (MM) Alternative Test Method: Split Signal Pin Component Level
SP5.4-2004 Latch-up-Empfindlichkeitstest von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Transienter Latch-up-Test – transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene
TR5.3.1-01-2018 Für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung ist das Contact Charged Device Model (CCDM) im Vergleich zum Field Induced CDM (FICDM) eine Fallstudie
SP5.3.3-2018 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung. Prüfung des Charged Device Model (CDM) – niederohmiger Kontakt-CDM auf Komponentenebene als alternative CDM-Charakterisierungsmethode

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Empfindlichkeitstest

JEDEC JESD22-A115C-2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD), Maschinenmodell (MM)
JEDEC JESD22-A115B-2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD), Maschinenmodell (MM)

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Empfindlichkeitstest

DB32/T 3416-2018 Empfindlichkeitstestmethode für UHF-Radiofrequenz-Identifikationsleser

Electrostatic Discharge Association (ESDA), Empfindlichkeitstest

ANSI/ESD STM5.5.1-2008 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, sehr schneller Übertragungsleitungsimpuls (VF-TLP) – Komponentenebene

GSO, Empfindlichkeitstest

GSO IEC 62615:2013 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischen Entladungen – Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
OS GSO IEC 62615:2013 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischen Entladungen – Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
GSO ISO 5347-19:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
GSO ISO 5347-17:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit
GSO ISO 5347-15:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
BH GSO ISO 5347-19:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
GSO ISO 5347-12:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 12: Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
GSO ISO 5347-13:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
OS GSO ISO 5347-15:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
BH GSO ISO 5347-12:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 12: Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
GSO ISO 16063-31:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
OS GSO ISO 5347-12:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 12: Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
BH GSO ISO 5347-17:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit
BH GSO ISO 5347-13:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
OS GSO ISO 5347-16:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
OS GSO ISO 5347-13:2013 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
GSO IEC 60749-26:2014 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
GSO IEC 60749-27:2014 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
OS GSO IEC 60749-27:2014 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
BH GSO IEC 60749-27:2016 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
GSO IEC 60749-28:2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene
BH GSO IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Empfindlichkeitstest

GB/T 13823.4-1992 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
GB/T 13823.17-1996 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
GB/T 13823.8-1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
GB/T 13823.9-1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
GB/T 13823.5-1992 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
GB/T 13823.6-1992 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Grundspannungsempfindlichkeit
GB/T 13823.15-1995 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
GB/T 20485.31-2011 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit

British Standards Institution (BSI), Empfindlichkeitstest

BS IEC 62615:2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung. Übertragungsleitungsimpuls (TLP). Komponentenebene
BS 6955-15:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Testmethode für akustische Empfindlichkeit
BS 6955-17:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Prüfverfahren für die Empfindlichkeit gegenüber festen Temperaturen
BS 6955-13:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Testmethode für die Empfindlichkeit gegenüber Grunddehnungen
BS ISO 16063-33:2017 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
BS ISO 16063-34:2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Prüfung der Empfindlichkeit bei festgelegten Temperaturen
BS EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Menschliches Körpermodell (HBM)
BS EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
BS EN 60749-26:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM)
BS EN 60749-26:2014 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Menschliches Körpermodell (HBM)
18/30376778 DC BS ISO 16063-34. Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 34. Prüfung der Empfindlichkeit bei festgelegten Temperaturen
BS EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene
20/30419235 DC BS EN 60749-28. Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 28. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene

未注明发布机构, Empfindlichkeitstest

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023 Zur Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung auf Geräteebene des Human Body Model (HBM).
ANSI ESDA JEDEC JS-001-2017 Zum Testen der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung. Menschliches Körpermodell (HBM) – Komponentenebene
ANSI ESDA JEDEC JS-002-2018 Für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, geladenes Gerätemodell (CDM) – Geräteebene

BE-NBN, Empfindlichkeitstest

NBN S 21-109-1988 Komponenten automatischer Brandmeldesysteme Teil 9: Brandempfindlichkeitstest

FI-SFS, Empfindlichkeitstest

SFS 5179 E-1985 Dieser Standard ist in englischer Sprache genehmigt

CEN - European Committee for Standardization, Empfindlichkeitstest

EN ISO 8596:2018 Ophthalmic optics - Visual acuity testing - Standard and clinical optotypes and their presentation

Association Francaise de Normalisation, Empfindlichkeitstest

NF S12-112:2009 Augenoptik - Prüfung der Sehschärfe - Standard-Optotyp und seine Darstellung.
E90-350-15:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit.
NF E90-350-15:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Teil 15: Essay über akustische Sensibilität.
NF E90-350-16:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Teil 16: Prüfung der Sensibilität des Paars von Stößen.
E90-350-17:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit.
NF ETS 300050:1994 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßsensoren – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit.
NF EN 2591-209:1994 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßsensoren – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit.
NF E90-350-17:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Abschnitt 17: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber festen Temperaturen.
E90-350-16:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit.
NF E90-350-12:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Abschnitt 12: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber Stößen in Querrichtung.
NF EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
NF EN 60749-27/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
NF C96-022-26:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM).
NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM).
NF B43-352*NF EN 13234:2007 Fortschrittliche technische Keramik – Mechanische Eigenschaften keramischer Verbundwerkstoffe bei Umgebungstemperatur – Bewertung des Widerstands gegen Rissausbreitung durch Kerbempfindlichkeitsprüfung

European Committee for Standardization (CEN), Empfindlichkeitstest

EN ISO 8596:2009 Augenoptik – Prüfung der Sehschärfe – Standard-Optotyp und seine Darstellung (ISO 8596:2009)
EN ISO 8596:2018/A1:2020 Augenoptik – Prüfung der Sehschärfe – Standard- und klinische Optotypen und ihre Darstellung – Änderung 1 (ISO 8596:2017/Amd1:2019)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Empfindlichkeitstest

GB/T 20485.33-2018 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit

American National Standards Institute （ANSI), Empfindlichkeitstest

ANSI/ESD SP14.5-2021 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Scannen der Nahfeldimmunität auf Komponenten-/Modul-/PCB-Ebene
ANSI/ESD STM5.5.1-2022 Standardtestmethode der ESD Association für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene

International Organization for Standardization (ISO), Empfindlichkeitstest

ISO 5347-19:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
ISO 16063-33:2017 Verfahren zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
ISO 5347-15:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
ISO 5347-11:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 11: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
ISO 5347-16:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
ISO 5347-13:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
ISO 5347-18:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
ISO 16063-31:2009/WD Amd 1 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit – Änderung 1

KR-KS, Empfindlichkeitstest

KS B ISO 16063-33-2020 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit

ZA-SANS, Empfindlichkeitstest

SANS 16063-31:2009 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit

CZ-CSN, Empfindlichkeitstest

CSN 66 6408 Zb-1983 Überarbeitung b). 4/83 Tschechischer nationaler Standard 66 6408 Farbfilmempfindlichkeit. prüfen. Kennzeichnung auf der Verpackung
CSN 66 6403 Zb-1983 Änderung b) 4/83 Tschechischer Nationalstandard 66 6403 Empfindlichkeitstest von Schwarz-Weiß-Filmmaterialien. Verpackungsidentifikation
CSN 66 6405 Zb-1983 Revision b) 4/83 Tschechische Nationalnorm 66 6405 Lichtempfindliche Materialien. Empfindlichkeitstest für Schwarzweißfilme. Verpackungsmarke

RU-GOST R, Empfindlichkeitstest

GOST ISO 16063-31-2013 Mechanische Vibration. Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 31. Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit

International Electrotechnical Commission (IEC), Empfindlichkeitstest

IEC 60749-27:2003 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD); Maschinenmodell (MM)
IEC 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)

Danish Standards Foundation, Empfindlichkeitstest

DS/EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
DS/EN 60749-27/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)

ES-UNE, Empfindlichkeitstest

UNE-EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006) (Von AENOR im November 2006 gebilligt.)
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Von AENOR im Januar 2013 gebilligt.)
UNE-EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2018.)
UNE-EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)
UNE-EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Bestätigt von der Asociación Española de Normalización im August 2017.)

International Telecommunication Union (ITU), Empfindlichkeitstest

ITU-R SM.2096-2016 Testverfahren zur Messung der Peilempfindlichkeit im VHF/UHF-Frequenzbereich
ITU-R SM.1840-2007 Testverfahren zur Messung der Empfindlichkeit von Funküberwachungsempfängern mittels analog modulierter Signale

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Empfindlichkeitstest

ITU-R SM.2096-0-2016 Testverfahren zur Messung der Peilempfindlichkeit im VHF/UHF-Frequenzbereich

German Institute for Standardization, Empfindlichkeitstest

DIN EN ISO 8596:2009 Augenoptik - Prüfung der Sehschärfe - Standard-Optotyp und seine Darstellung (ISO 8596:2009); Englische Fassung von DIN EN ISO 8596:2009-10

Lithuanian Standards Office , Empfindlichkeitstest

LST EN 60749-27-2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006)
LST EN 60749-27-2006/A1-2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006/A1:2012)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Empfindlichkeitstest

EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Enthält Änderung A1: 2012)
EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene
EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Empfindlichkeitstest

IPC TM-650 2.6.9.1-1995 Test zur Bestimmung der Empfindlichkeit elektronischer Baugruppen gegenüber Ultraschallenergie
IPC TM-650 2.6.9.2-1995 Test zur Bestimmung der Empfindlichkeit elektronischer Komponenten gegenüber Ultraschallenergie

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Empfindlichkeitstest

ASHRAE SF-98-20-1-1998 Testverfahren zur Beschreibung der Richtungsempfindlichkeit von Anemometern für Messungen bei niedrigen Geschwindigkeiten in Innenräumen

Group Standards of the People's Republic of China, Empfindlichkeitstest

T/CAMDI 123.3-2023 Medizinische Rehabilitationsroboter – Teil 3: Testmethode für Spastikempfindlichkeit