ZH
EN
KR
JP
ES
RUEmpfindlichkeitstest
Für die Empfindlichkeitstest gibt es insgesamt 127 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Empfindlichkeitstest die folgenden Kategorien: Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Diskrete Halbleitergeräte, Anwendungen der Informationstechnologie, Vibrations-, Schock- und Vibrationsmessungen, medizinische Ausrüstung, Telekommunikation umfassend, Elektronische Geräte.
Military Standards (MIL-STD), Empfindlichkeitstest
(U.S.) Telecommunications Industries Association , Empfindlichkeitstest
TIA - Telecommunications Industry Association, Empfindlichkeitstest
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Empfindlichkeitstest
- KS C IEC PAS 62179-2003(2008) Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
- KS B ISO 5347-15-2014(2019) Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
- KS B ISO 5347-15:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
- KS B ISO 5347-19:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- KS B 0713-15-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
- KS B ISO 16063-33:2020 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- KS B 0713-19-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- KS B ISO 5347-16-2014(2019) Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
- KS B 0713-18-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
- KS B 0713-17-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit
- KS B 0713-11-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 11: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
- KS B 0713-16-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
- KS B ISO 5347-13:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
- KS B ISO 5347-16:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
- KS B 0713-12-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 12: Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
- KS B ISO 5347-18:2014 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
- KS B 0713-13-2001 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
ESD - ESD ASSOCIATION, Empfindlichkeitstest
- TR5.4-03-2011 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung Latch-Up-Empfindlichkeitsprüfung von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen Transiente Latch-up-Prüfung – Transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene
- TR5.4-04-2013 Testen der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Testen des transienten Latch-Ups
- SP5.5.1-2004 Empfindlichkeitsprüfung der TLP-Komponentenebene (Transmission Line Pulse).
- ESD DS5.3:1993 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung beim Charged Device Model (CDM).
- SP5.3.2-2004 Sensitivity Testing Socketed Device Model (SDM) Component Level
- STM5.5.1-2008 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene
- S5.3.1-2009 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Charged Device Model (CDM) – Komponentenebene
- STM5.5.1-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene
- STM5.5.1-2016 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Transmission Line Pulse (TLP) – Geräteebene
- JS-002-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Charged Device Model (CDM) – Geräteebene
- STM 5.3.1-1999 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung auf Komponentenebene des Charged-Divice-Modells (cdm).
- TR5.5-04-2018 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Transmission Line Pulse (TLP) – Benutzer- und Anwendungshandbuch
- ESD DS5.3.1:2007 Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Charged Device Model (CDM) – Component Level
- SP5.5.2-2007 ELEKTROSTATISCHE ENTLADUNGSEMPFINDLICHKEITSPRÜFUNG – SEHR SCHNELLER ÜBERTRAGUNGSLEITUNGSPULS (VF-TLP) – KOMPONENTENEBENE
- TR5.5-03-2014 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung – Very-Fast Transmission Line Pulse (VF-TLP) – Round-Robin-Analyse
- SP5.2.2-2012 The Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Machine Model (MM) Alternative Test Method: Split Signal Pin Component Level
- SP5.4-2004 Latch-up-Empfindlichkeitstest von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Transienter Latch-up-Test – transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene
- TR5.3.1-01-2018 Für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung ist das Contact Charged Device Model (CCDM) im Vergleich zum Field Induced CDM (FICDM) eine Fallstudie
- SP5.3.3-2018 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung. Prüfung des Charged Device Model (CDM) – niederohmiger Kontakt-CDM auf Komponentenebene als alternative CDM-Charakterisierungsmethode
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Empfindlichkeitstest
- JEDEC JESD22-A115C-2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD), Maschinenmodell (MM)
- JEDEC JESD22-A115B-2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD), Maschinenmodell (MM)
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Empfindlichkeitstest
- DB32/T 3416-2018 Empfindlichkeitstestmethode für UHF-Radiofrequenz-Identifikationsleser
Electrostatic Discharge Association (ESDA), Empfindlichkeitstest
- ANSI/ESD STM5.5.1-2008 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Übertragungsleitungsimpuls (TLP) – Komponentenebene
- ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, sehr schneller Übertragungsleitungsimpuls (VF-TLP) – Komponentenebene
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Empfindlichkeitstest
- GB/T 13823.4-1992 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- GB/T 13823.17-1996 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
- GB/T 13823.8-1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
- GB/T 13823.9-1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Querstoßempfindlichkeit
- GB/T 13823.5-1992 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
- GB/T 13823.6-1992 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Grundspannungsempfindlichkeit
- GB/T 13823.15-1995 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
- GB/T 20485.31-2011 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
British Standards Institution (BSI), Empfindlichkeitstest
- BS IEC 62615:2010 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung. Übertragungsleitungsimpuls (TLP). Komponentenebene
- BS 6955-15:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Testmethode für akustische Empfindlichkeit
- BS 6955-17:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Prüfverfahren für die Empfindlichkeit gegenüber festen Temperaturen
- BS 6955-13:1994 Kalibrierung von Vibrations- und Stoßaufnehmern. Testmethode für die Empfindlichkeit gegenüber Grunddehnungen
- BS ISO 16063-33:2017 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- BS ISO 16063-34:2019 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Prüfung der Empfindlichkeit bei festgelegten Temperaturen
- BS EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Menschliches Körpermodell (HBM)
- BS EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
- BS EN 60749-26:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM)
- BS EN 60749-26:2014 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Menschliches Körpermodell (HBM)
- 18/30376778 DC BS ISO 16063-34. Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 34. Prüfung der Empfindlichkeit bei festgelegten Temperaturen
- BS EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene
- 20/30419235 DC BS EN 60749-28. Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 28. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene
BE-NBN, Empfindlichkeitstest
- NBN S 21-109-1988 Komponenten automatischer Brandmeldesysteme Teil 9: Brandempfindlichkeitstest
FI-SFS, Empfindlichkeitstest
CEN - European Committee for Standardization, Empfindlichkeitstest
- EN ISO 8596:2018 Ophthalmic optics - Visual acuity testing - Standard and clinical optotypes and their presentation
Association Francaise de Normalisation, Empfindlichkeitstest
- NF S12-112:2009 Augenoptik - Prüfung der Sehschärfe - Standard-Optotyp und seine Darstellung.
- E90-350-15:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit.
- NF E90-350-15:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Teil 15: Essay über akustische Sensibilität.
- NF E90-350-16:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Teil 16: Prüfung der Sensibilität des Paars von Stößen.
- E90-350-17:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 17: Prüfung der festen Temperaturempfindlichkeit.
- NF E90-350-17:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Abschnitt 17: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber festen Temperaturen.
- NF ETS 300050:1994 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßsensoren – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit.
- NF EN 2591-209:1994 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßsensoren – Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit.
- E90-350-16:1994 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit.
- NF E90-350-12:1994 Methoden zur Erfassung von Vibrationen und Stößen – Abschnitt 12: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber Stößen in Querrichtung.
- NF EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
- NF EN 60749-27/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
- NF C96-022-26:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM).
- NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM).
- NF B43-352*NF EN 13234:2007 Fortschrittliche technische Keramik – Mechanische Eigenschaften keramischer Verbundwerkstoffe bei Umgebungstemperatur – Bewertung des Widerstands gegen Rissausbreitung durch Kerbempfindlichkeitsprüfung
European Committee for Standardization (CEN), Empfindlichkeitstest
- EN ISO 8596:2009 Augenoptik – Prüfung der Sehschärfe – Standard-Optotyp und seine Darstellung (ISO 8596:2009)
- EN ISO 8596:2018/A1:2020 Augenoptik – Prüfung der Sehschärfe – Standard- und klinische Optotypen und ihre Darstellung – Änderung 1 (ISO 8596:2017/Amd1:2019)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Empfindlichkeitstest
- GB/T 20485.33-2018 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
American National Standards Institute (ANSI), Empfindlichkeitstest
- ANSI/ESD SP14.5-2021 Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung, Scannen der Nahfeldimmunität auf Komponenten-/Modul-/PCB-Ebene
- ANSI/ESD STM5.5.1-2022 Standardtestmethode der ESD Association für die Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Transmission Line Pulse (TLP) – Komponentenebene
International Organization for Standardization (ISO), Empfindlichkeitstest
- ISO 5347-19:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 19: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- ISO 16063-33:2017 Verfahren zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
- ISO 5347-15:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 15: Prüfung der akustischen Empfindlichkeit
- ISO 5347-11:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 11: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
- ISO 5347-16:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 16: Prüfung der Montagedrehmomentempfindlichkeit
- ISO 5347-13:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 13: Prüfung der Grunddehnungsempfindlichkeit
- ISO 5347-18:1993 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern; Teil 18: Prüfung der transienten Temperaturempfindlichkeit
- ISO 16063-31:2009/WD Amd 1 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern – Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit – Änderung 1
KR-KS, Empfindlichkeitstest
- KS B ISO 16063-33-2020 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 33: Prüfung der Magnetfeldempfindlichkeit
ZA-SANS, Empfindlichkeitstest
- SANS 16063-31:2009 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern Teil 31: Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
CZ-CSN, Empfindlichkeitstest
- CSN 66 6408 Zb-1983 Überarbeitung b). 4/83 Tschechischer nationaler Standard 66 6408 Farbfilmempfindlichkeit. prüfen. Kennzeichnung auf der Verpackung
- CSN 66 6403 Zb-1983 Änderung b) 4/83 Tschechischer Nationalstandard 66 6403 Empfindlichkeitstest von Schwarz-Weiß-Filmmaterialien. Verpackungsidentifikation
- CSN 66 6405 Zb-1983 Revision b) 4/83 Tschechische Nationalnorm 66 6405 Lichtempfindliche Materialien. Empfindlichkeitstest für Schwarzweißfilme. Verpackungsmarke
RU-GOST R, Empfindlichkeitstest
- GOST ISO 16063-31-2013 Mechanische Vibration. Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Teil 31. Prüfung der Querschwingungsempfindlichkeit
International Electrotechnical Commission (IEC), Empfindlichkeitstest
- IEC 60749-27:2003 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD); Maschinenmodell (MM)
- IEC 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
- IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
- IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
Danish Standards Foundation, Empfindlichkeitstest
- DS/EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
- DS/EN 60749-27/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
ES-UNE, Empfindlichkeitstest
- UNE-EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006) (Von AENOR im November 2006 gebilligt.)
- UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Von AENOR im Januar 2013 gebilligt.)
- UNE-EN IEC 60749-26:2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2018.)
- UNE-EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)
- UNE-EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Bestätigt von der Asociación Española de Normalización im August 2017.)
International Telecommunication Union (ITU), Empfindlichkeitstest
- ITU-R SM.2096-2016 Testverfahren zur Messung der Peilempfindlichkeit im VHF/UHF-Frequenzbereich
- ITU-R SM.1840-2007 Testverfahren zur Messung der Empfindlichkeit von Funküberwachungsempfängern mittels analog modulierter Signale
ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Empfindlichkeitstest
German Institute for Standardization, Empfindlichkeitstest
- DIN EN ISO 8596:2009 Augenoptik - Prüfung der Sehschärfe - Standard-Optotyp und seine Darstellung (ISO 8596:2009); Englische Fassung von DIN EN ISO 8596:2009-10
Lithuanian Standards Office , Empfindlichkeitstest
- LST EN 60749-27-2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006)
- LST EN 60749-27-2006/A1-2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006/A1:2012)
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Empfindlichkeitstest
- EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Enthält Änderung A1: 2012)
- EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene
- EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Empfindlichkeitstest
- IPC TM-650 2.6.9.1-1995 Test zur Bestimmung der Empfindlichkeit elektronischer Baugruppen gegenüber Ultraschallenergie
- IPC TM-650 2.6.9.2-1995 Test zur Bestimmung der Empfindlichkeit elektronischer Komponenten gegenüber Ultraschallenergie
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Empfindlichkeitstest
- ASHRAE SF-98-20-1-1998 Testverfahren zur Beschreibung der Richtungsempfindlichkeit von Anemometern für Messungen bei niedrigen Geschwindigkeiten in Innenräumen
Group Standards of the People's Republic of China, Empfindlichkeitstest
- T/CAMDI 123.3-2023 Medizinische Rehabilitationsroboter – Teil 3: Testmethode für Spastikempfindlichkeit