Testen Sie Siliziumwafer

Für die Testen Sie Siliziumwafer gibt es insgesamt 23 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Testen Sie Siliziumwafer die folgenden Kategorien: Halbleitermaterial, Isolierflüssigkeit, Prüfung von Metallmaterialien, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Nichteisenmetalle, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Testen Sie Siliziumwafer

KS D 0260-1999 PRÜFMETHODEN DES WIDERSTANDS EINKRISTALLER SILIZIUMWAFER MIT VIERPUNKTSONDE
KS D 0260-1989(1994) PRÜFMETHODEN DES WIDERSTANDS EINKRISTALLER SILIZIUMWAFER MIT VIERPUNKTSONDE
KS C 0256-2002(2017) Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Testen Sie Siliziumwafer

GB/T 6619-1995 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumscheiben
GB/T 6619-2009 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumwafern
GB/T 15615-1995 Prüfverfahren zur Messung der Biegefestigkeit von Siliziumscheiben
GB/T 26067-2010 Standardtestmethode für die Abmessungen von Kerben auf Siliziumwafern
GB/T 30866-2014 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern
GB/T 6621-2009 Prüfmethoden für die Oberflächenebenheit von Siliziumscheiben
GB/T 32280-2015 Testverfahren für die Verformung von Siliziumwafern. Automatisiertes berührungsloses Scanverfahren
GB/T 19921-2005 Testmethode für Partikel auf Siliziumwaferoberflächen
GB/T 42789-2023 Prüfverfahren für den Oberflächenglanz von Siliziumwafern
GB/T 32278-2015 Prüfverfahren für die Ebenheit eines Siliziumkarbid-Einzelwafers

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Testen Sie Siliziumwafer

GB/T 19921-2018 Prüfmethode für Partikel auf polierten Siliziumwaferoberflächen

工业和信息化部, Testen Sie Siliziumwafer

SJ/T 11631-2016 Prüfverfahren für Aussehensmängel von Siliziumwafern für Solarzellen
SJ/T 11630-2016 Prüfverfahren für geometrische Abmessungen von Siliziumwafern für Solarzellen
SJ/T 11627-2016 Online-Testverfahren für den Widerstand von Siliziumwafern für Solarzellen
SJ/T 11632-2016 Prüfverfahren für Mikrorissdefekte in Siliziumwafern für Solarzellen

Group Standards of the People's Republic of China, Testen Sie Siliziumwafer

T/IAWBS 002-2017 Testverfahren für Oberflächendefekte von Siliziumkarbid-Epitaxiewafern

Defense Logistics Agency, Testen Sie Siliziumwafer

DLA SMD-5962-93228 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, TESTBUS-CONTROLLER, MONOLITHISCHES SILIKON

CZ-CSN, Testen Sie Siliziumwafer

CSN 34 5872-1970 Prüfung der magnetischen Eigenschaften von Elektroblechen mit 50 cm Epstein-Rahmen.
CSN 34 5871-1970 Prüfung der magnetischen Eigenschaften von Elektroblechen mit 25 cm Epstein-Rahmen

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Testen Sie Siliziumwafer

JIS H 0602:1995 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde