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Scannen Sie den Siliziumwafer

Für die Scannen Sie den Siliziumwafer gibt es insgesamt 7 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Scannen Sie den Siliziumwafer die folgenden Kategorien: Halbleitermaterial, Filter, Prüfung von Metallmaterialien, Sprache für die Informationstechnologie.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Scannen Sie den Siliziumwafer

• ASTM F1390-97 Standardtestmethode zur Messung der Verformung von Siliziumwafern durch automatisiertes berührungsloses Scannen
• ASTM F1530-94 Standardtestmethode zur Messung der Ebenheit, Dicke und Dickenschwankung von Siliziumwafern durch automatisiertes berührungsloses Scannen

Defense Logistics Agency, Scannen Sie den Siliziumwafer

• DLA SMD-5962-93239 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, SCAN-Pfad-Linker mit 4-Bit-ID-Bus, monolithisches Silizium
• DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTAL-D-TYP-LATCH, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
• DLA SMD-5962-90649 REV B-1995 MIKROKREISLAUF, LINEAR, GERÄUSCHARM, 8. ORDNUNG, CLOCK-SWEEPABLE CAUER-TIEFPASSFILTER, MONOLITHISCHES SILIKON

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Scannen Sie den Siliziumwafer

• GB/T 32280-2015 Testverfahren für die Verformung von Siliziumwafern. Automatisiertes berührungsloses Scanverfahren

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Scannen Sie den Siliziumwafer

• IEEE 1450.6.1-2009 Beschreibung der On-Chip-Scan-Komprimierung

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