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走査型電子顕微鏡およびX線分光法

走査型電子顕微鏡およびX線分光法は全部で 83 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡およびX線分光法 国際標準分類において、これらの分類：犯罪予防、光学機器、物理学、化学、計測学と測定の総合、医療科学とヘルスケア機器の統合、金属材料試験、光学および光学測定、塗料とワニス、分析化学、総合電子部品、長さと角度の測定、非破壊検査、紙とボール紙。

Professional Standard - Judicatory, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

SF/T 0139-2023 土壌検査走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
GB/T 32869-2016 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブの特性評価方法
GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/T 2679.11-2008 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線分光分析
GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析
GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

GA/T 1938-2021 法医学金属検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1937-2021 法医学ゴム検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1522-2018 法医学銃撃残渣検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1521-2018 法医学プラスチック元素組成検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1519-2018 法医学トナー元素組成検査走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1520-2018 法医学黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法
GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアームカーボンナノチューブの特性評価。
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による測定とスキャンほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

DB44/T 1216-2013 走査型電子顕微鏡とX線分光法を使用したグラフェンの特性評価
DB44/T 1215-2013 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価

GOSTR, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブ
PNST 507-2020 透過型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して特性評価されたナノテクノロジー単層カーボンナノチューブ

British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
BS DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価。
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法測定スキャンからのほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E3284-23 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) を使用したプライマー残基 (pGSR) の法医学的検査のトレーニングの標準的な実践方法
ASTM E995-16 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド減算技術の標準ガイド
ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド
ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド

Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

T/CSTM 00346-2021 鋼中の介在物の自動分類と統計走査型電子顕微鏡分光法

Professional Standard - Electron, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法帯電制御・帯電補正法レポート

未注明发布机构, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定

KR-KS, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Standard Association of Australia （SAA）, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Professional Standard - Aviation, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

HB 20094.4-2012 航空作動油中の摩耗金属含有量の検出パート 4: 走査電子顕微鏡およびエネルギー分光計の検出方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法

GB/T 41105.3-2021 非破壊検査用X線管電圧の測定と評価その3：エネルギー分光法