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X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法は全部で 15 項標準に関連している。

X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定、 非破壊検査、 総合電子部品、 光学および光学測定。

International Organization for Standardization (ISO), X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
• KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
• KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
• GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
• GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報

British Standards Institution (BSI), X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
• BS ISO 20903:2019 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報

未注明发布机构, X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
• BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
• ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
• ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド

Professional Standard - Electron, X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法

• SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド

その他：   X線電子分光法, X線電子分光計, X線エネルギー分光法と電子エネルギー分光法, X線電子分光法, オージェ電子分光法 X線分光法, エネルギー分光法 X 線光電子分光法, X線走査電子分光法, X線電子分光法, X線電子分光法, X線電子分光法, 走査型電子顕微鏡およびX線分光法, X線オージェ電子分光法, X線オージェ電子分光法, オージェ電子分光法とX線, X線電子分光法の応用, X線電子分光法の応用, 特性X線とエネルギースペクトル, X線エネルギースペクトルとX線スペクトル, 光電子分光法とX線分光法, X線分光法電子エネルギー分光法.