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X線単結晶

X線単結晶は全部で 14 項標準に関連している。

X線単結晶 国際標準分類において、これらの分類：セラミックス、 半導体材料、 教育する、 金属材料試験、 分析化学。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X線単結晶

• JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様

International Organization for Standardization (ISO), X線単結晶

• ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス） 平行X線ビームX線回折法による単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
• ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
• ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法

British Standards Institution (BSI), X線単結晶

• BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
• 20/30360821 DC BS ISO 22278 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質を判定する試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, X線単結晶

• T/IAWBS 017-2022 ダイヤモンド単結晶の半値幅の試験方法 X線二重結晶ロッキングカーブ
• T/IAWBS 015-2021 酸化ガリウム単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
• T/IAWBS 016-2022 炭化珪素単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法

Professional Standard - Education, X線単結晶

• JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
• JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線単結晶

• GB/T 32188-2015 窒化ガリウム単結晶基板のＸ線双結晶ロッキングカーブの半値幅の試験方法
• GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法

Professional Standard - Aviation, X線単結晶

• HB 6742-1993 X線裏面照射ラウエ写真による単結晶ブレードの結晶方位の決定

その他：   単結晶X線回折装置, X線単結晶回折装置, X線単結晶回折装置, ++++単結晶X線回折装置, X線単結晶回折, 低分子単結晶X線分析, 単結晶X線分析, 単結晶X線分析, 現在の単結晶X線回折装置, X線単結晶回折計リモート, X線回折装置と単結晶, X線単結晶, X線単結晶回折装置, 単結晶X線分析, X線単結晶, X線単結晶回折計とX線, ×単結晶, X線単結晶装置, X線単結晶回折装置とX線回折装置, X線単結晶装置.