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マイクロキャビティ周波数

マイクロキャビティ周波数は全部で 244 項標準に関連している。

マイクロキャビティ周波数 国際標準分類において、これらの分類：無線通信、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 バルブ、 磁性材料、 半導体ディスクリートデバイス、 電気機器部品、 電子部品および部品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 セラミックス、 断熱材、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 航空宇宙エンジンおよび推進システム、 導体材料、 電磁両立性 (EMC)、 金属材料試験、 天文学、測地学、地理学、 放射線測定、 電気および電子試験、 電子管、 通信機器の部品および付属品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 通信システム。


IET - Institution of Engineering and Technology, マイクロキャビティ周波数

Professional Standard - Electron, マイクロキャビティ周波数

  • SJ 21076-2016 マイクロ波周波数源試験方法
  • SJ 20585-1996 マイクロ波周波数計の一般仕様
  • SJ 20619-1997 マイクロ波周波数シンセサイザーの一般仕様
  • SJ 20270-1993 YH1301 全固体マイクロ波周波数掃引電力信号発生器の校正手順

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, マイクロキャビティ周波数

  • GJB 7052-2010 狭パルス高出力マイクロ波の周波数とスペクトル特性の測定方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • JJG 2009-2016 RFおよびマイクロ波電力測定器
  • JJG 841-1993 マイクロ波周波数カウンターの校正手順
  • JJG 841-2012 マイクロ波周波数カウンターの校正手順
  • JJG 2009-1987 高周波・マイクロ波電力測定器校正システム

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロキャビティ周波数

  • GB/T 35002-2018 マイクロ波回路周波数源試験方法
  • GB/T 22586-2018 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定

Defense Logistics Agency, マイクロキャビティ周波数

  • DLA SMD-5962-93222 REV C-2011 マイクロ回路、リニア、コンバータ、電圧から周波数へ、周波数から電圧へ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-94562-1994 シリコンモノリシック、高周波ビデオスイッチ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-98550 REV C-2003 マイクロ回路、リニア、PLL 周波数同期、単一シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/11606 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、PLL周波数シンセサイザー、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-90987 REV A-2010 マイクロ回路、リニア、周波数コントローラー、位相ロック、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-87607 REV C-2013 マイクロ回路、リニア、電圧-周波数コンバータ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89564 REV A-1992 シリコンモノリシックIFシステム低電力FMリニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93222 REV B-2002 シリコンモノリシック、電圧-周波数コンバータ、リニアマイクロ回路
  • DLA DSCC-VID-V62/11607 REV B-2011 マイクロ回路、デジタル、位相検出器/周波数シンセサイザー、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-92339 REV E-2003 シリコンモノリシック、デュアル低電力ビデオバッファ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90987-1992 シリコンモノリシック位相同期周波数コントローラー、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97641 REV B-2005 マイクロ回路、リニア、耐放射線性、超高周波、オールNPN、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-94694 REV B-2002 マルチ周波数ビデオオペアンプシリコンモノリシック回路ラインタイプマイクロ回路を含む高スルーレート
  • DLA DSCC-DWG-13016-2013 減衰器、固定、小型、同軸線 (SMA コネクタ)、周波数範囲: DC ～ 18 GHz、クラス IV、低電力
  • DLA SMD-5962-87787 REV B-2007 リニアマイクロ回路、モノリシックシリコン高回転数、広帯域オペアンプ
  • DLA SMD-5962-94694 REV C-2009 マイクロ回路、リニア、ブロードバンド、高スルーレート、ビデオオペアンプ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-94719 REV C-2003 複数の周波数オペアンプのシリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路を含む
  • DLA SMD-5962-96508-1995 低出力FM情報収集システム シリコンモノリシック回路 リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-99536 REV E-2003 マイクロ回路、デジタル、耐放射線性、高周波ハーフブリッジドライバー、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-94603-1994 シリコンモノリシック、高出力電流および高周波電流フィードバックスピーカー、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-94641-1994 シリコンモノリシック、4 ビットデータバス入力フェーズロックループ周波数シンクロナイザー、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-94725 REV C-2004 マルチ周波数オペアンプ電流フィードバックシリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路を含む
  • DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 耐放射線性多周波高抵抗オペアンプシリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 耐放射線性多周波高入力インピーダンスオペアンプシリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 シリコンモノリシックバッファ低周波ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97512 REV D-2005 放射線耐性のあるデュアルマルチ周波数高入力インピーダンス非補償オペアンプ、シリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • JJF 1885-2020 RF およびマイクロ波パワーメータの校正仕様
  • JJF 1887-2020 RF およびマイクロ波パワー センサーの校正仕様
  • JJF 1678-2017 RF およびマイクロ波パワーアンプの校正仕様

British Standards Institution (BSI), マイクロキャビティ周波数

  • BS IEC 60747-16-2:2001 半導体装置マイクロ波集積回路周波数プリスケーラ
  • BS EN 60556:2006 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料、特性の測定方法
  • BS EN 60556:2006+A1:2016 マイクロ波周波数に適した磁性回転体の物性測定方法
  • BS EN 61788-7:2002 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導体の表面抵抗。
  • BS EN 61788-7:2007 超電導の電子特性 マイクロ波周波数での超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN IEC 61788-7:2020 超電導の電子特性 マイクロ波周波数での高温超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN 61788-16:2013 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導体の動的表面抵抗
  • BS EN 61788-15:2011 超伝導、電子特性の測定、マイクロ波周波数における超伝導膜の固有表面インピーダンス。
  • BS EN 61788-7:2006 超伝導 パート 3: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超伝導体の表面抵抗
  • BS EN 136001:1977 電子部品品質評価連携システム仕様書 空白詳細仕様書：パルス磁気空洞管（周波数の急変マグネトロンを除く）
  • BS EN 62037-1:2012 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部レベリング測定 一般要件と測定方法
  • BS EN 62037-5:2013 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部変調レベル測定 フィルタのパッシブ相互変調測定
  • BS EN 62037-6:2013 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部変調レベル測定 アンテナ間のパッシブ相互変調測定
  • 18/30370111 DC BS EN 61788-7 超電導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超電導体の表面抵抗の測定
  • BS EN 62037-4:2012 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部変調レベル測定 同軸ケーブルのパッシブ相互変調測定
  • BS EN 62037-2:2013 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部変調レベル測定 同軸コンポーネントアセンブリのパッシブ相互変調測定
  • BS EN 62037-3:2012 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイスの内部変調レベル測定 同軸ケーブル コネクタのパッシブ相互変調測定

RU-GOST R, マイクロキャビティ周波数

  • GOST 23089.13-1986 マイクロ集積回路。 オペアンプユニットの増幅周波数とカットオフ周波数の測定方法
  • GOST 23089.15-1990 集積マイクロ回路。 オペアンプの全出力周波数の測定方法
  • GOST R 25645.163-1996 0.1～50 MHzの周波数間隔での地球磁気圏の放射性粒子の特性
  • GOST R 8.623-2006 全国測定均一性保証制度 絶縁体の比誘電率と絶縁体の損失係数 マイクロ波周波数測定手順

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), マイクロキャビティ周波数

  • KS C 6111-5-2008(2018) マイクロ波周波数での超電導体膜の厚さの測定
  • KS C 6111-4-2007(2017) マイクロ波周波数における大型高温超電導体膜の表面抵抗の均一性
  • KS C 6111-4-2007(2022) マイクロ波周波数における大型高温超電導薄膜の表面抵抗の均一性
  • KS C 6111-3-2007(2022) 電子特性測定 - マイクロ波周波数における高 TC 超電導体膜の固有表面インピーダンス
  • KS C 6111-3-2007(2017) マイクロ波周波数における高温超伝導膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定
  • KS C IEC 61788-16:2020 超電導 - パート 16: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗
  • KS C CISPR 19-2004(2009) 電磁両立性 (EMC) - 1 GHz を超える周波数で電子レンジからの放射線を測定するための代替方法の使用に関するガイダンス
  • KS C IEC 60130-6-2003(2008) MHz (Mc/s) 未満の周波数用のコネクタ パート 6: ブレード コンタクト付き長方形小型多極コネクタ
  • KS C IEC 60122-2-1-2011(2021) 周波数制御および選択用水晶コンポーネント 第 2 部: 周波数制御および選択用水晶コンポーネントの使用説明書 セクション 1: マイクロプロセッサ クロック電源用水晶コンポーネント
  • KS C IEC 60122-2-1-2011(2016) 周波数制御・選択用水晶デバイス 第２部 周波数制御・選択用水晶デバイスの使用上の注意 第１部 マイクロプロセッサクロック電源用水晶デバイス
  • KS C IEC 61338-1-5:2019 導波管型誘電体共振器 - 第 1-5 部：一般情報と試験条件 - マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板の界面の導電率の測定方法

KR-KS, マイクロキャビティ周波数

  • KS C 6111-5-2008(2023) マイクロ波周波数での超電導体膜厚測定
  • KS C IEC 61788-16-2020 超電導 - パート 16: 電子特性の測定 - マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗
  • KS C IEC 61338-1-5-2019 導波管型誘電体共振器 - 第 1-5 部：一般情報と試験条件 - マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板の界面の導電率の測定方法

Professional Standard - Agriculture, マイクロキャビティ周波数

  • JJF 2009-2016 高周波およびマイクロ波電力測定器の校正システム表

International Electrotechnical Commission (IEC), マイクロキャビティ周波数

  • IEC 60747-16-2:2001+AMD1:2007 CSV 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路周波数プリスケーラー
  • IEC 60556:2006 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料、特性の測定方法
  • IEC 60556:2006+AMD1:2016 CSV マイクロ波用磁性回転体の周波数特性の測定方法
  • IEC 60556:2006/AMD1:2016 マイクロ波用磁性回転体の周波数特性の測定方法
  • IEC 60556:1982 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料の特性を測定する方法
  • IEC 60747-16-3:2010 半導体デバイス 第 16 条の 3: マイクロ波集積回路周波数変換器
  • IEC 60747-16-3:2002 半導体デバイス、パート 16-3: マイクロ波集積回路、周波数変圧器
  • IEC 60556/AMD1:1997 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料の特性測定方法の改良 1
  • IEC 60747-16-2:2001 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路周波数プリスケーラー
  • IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路 周波数プリスケーラー
  • IEC 60747-16-2:2008 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路 周波数プリスケーラー
  • IEC 61788-7:2002 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • IEC 60747-16-3:2002/AMD1:2009 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路 周波数変換器 修正 1
  • IEC 61788-7:2006 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • IEC 61788-7:2020 RLV 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • IEC 61788-7:2020 超伝導 パート 7: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における高温超伝導体の表面抵抗
  • IEC 61788-15:2011 超電導 パート 15: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超電導膜の固有表面インピーダンス
  • IEC 60122-2-1:1991 周波数制御および選択用水晶コンポーネント 第 2 部: 周波数制御および選択用水晶コンポーネントの使用説明書 セクション 1: マイクロプロセッサ クロック用水晶コンポーネント
  • IEC 62037-1:2012 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイス、相互変調レベルの測定 パート 1: 一般要件と測定方法
  • IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 修正 1. 周波数制御および選択のための水晶部品 第 2 部: 周波数制御および選択のための水晶部品の使用に関するガイドライン セクション 1: マイクロプロセッサ クロック電源用水晶部品
  • IEC 62037-6:2013 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイス、相互変調レベルの測定 パート 6: アンテナ間のパッシブ相互変調測定
  • IEC 62037-5:2013 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイス、相互変調レベルの測定 パート 5: フィルターのパッシブ相互変調測定
  • IEC 62047-7:2011 半導体デバイス、微小電気機械デバイス、パート 7: 無線周波数制御と選択のための MEMS BAW フィルタとデュプレクサ
  • IEC 62037-4:2012 パッシブ無線周波数 (RF) およびマイクロ波デバイス、相互変調レベルの測定 パート 4: 同軸ケーブルにおけるパッシブ相互変調測定
  • IEC 61338-1-5:2015 導波管型誘電体共振器 - 第 1-5 部：一般情報と試験条件 - マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板の界面の導電率の測定方法

US-FCR, マイクロキャビティ周波数

Association Francaise de Normalisation, マイクロキャビティ周波数

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • GB/T 9633-2012 マイクロ波周波数用途のための磁気回転材料の特性を測定する方法
  • GB/T 14618-2012 見通し内マイクロ波中継通信システムと宇宙無線通信システム間の周波数共用に関する技術要件
  • GB/T 14618-1993 見通し内マイクロ波中継通信システムと宇宙無線通信システム間の周波数共用に関する技術要件

German Institute for Standardization, マイクロキャビティ周波数

  • DIN EN 60556:2017-02 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料の特性を測定する方法
  • DIN EN 61189-2-721:2016 電気材料、プリント基板、その他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 2-721: 相互接続構造材料の試験方法 分割誘電体柱共振を使用したマイクロ波周波数での銅張積層板の比誘電率と誘電損失角の決定キャビティ法正接値 (IEC 61189-2-721-2015)、ドイツ語版 EN 61189-2-721-2015
  • DIN EN 60556:2007 マイクロ波周波数での用途向け磁気回転材料 性能試験方法 (IEC 60556-2006)
  • DIN EN 60747-16-3:2018-04 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • DIN EN 61788-7:2007 超電導 パート 7: 電子特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗 (IEC 61788-7-2002)
  • DIN EN 61788-16:2013 超電導パート 16 電気的特性 測定値 マイクロ波周波数における超電導体の電力依存性表面抵抗 (IEC 61788-16-2013) ドイツ語版 EN 61788-16-2013
  • DIN EN 60556:2017 マイクロ波周波数での用途向けの磁気回転材料 性能試験方法 (IEC 60556-2006+A1-2016)、ドイツ語版 EN 60556-2006+A1-2016
  • DIN EN 61338-1-5:2016-04 導波管型誘電体共振器 第 1-5 部：一般情報と試験条件 マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板との界面導電率の測定方法

ES-UNE, マイクロキャビティ周波数

  • UNE-EN 60556:2006 マイクロ波周波数用磁気回転材料 - 性能測定方法
  • UNE-EN 60556:2006/A1:2016 マイクロ波周波数用磁気回転材料 - 性能測定方法
  • UNE-EN 60747-16-3:2002 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • UNE-EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • UNE-EN IEC 61788-7:2020 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • UNE-EN 61788-15:2011 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定
  • UNE-EN 61338-1-5:2015 導波管型誘電体共振器 第 1-5 部：一般情報と試験条件 マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板との界面導電率の測定方法

IN-BIS, マイクロキャビティ周波数

  • IS 13621-1993 マイクロ波周波数における木材の誘電率を測定するための試験方法
  • IS 8454-1977 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料の性能仕様を作成するためのガイドライン
  • IS 8426 Pt.1-1977 マイクロ波周波数で使用される磁気回転材料の特性を測定する方法 第 I 部 磁化
  • IS 13671-1993 GHz を超える周波数で電子レンジからの放射線を測定するための代替方法 k の使用に関するガイダンス
  • IS 8426 Pt.2-1977 マイクロ波周波数における磁性回転体の物性測定法 第2部 共鳴線幅
  • IS 8426 Pt.3-1977 マイクロ波周波数で使用される磁気回転材料の特性の測定方法 パート III 誘電率、見掛け密度およびキュリー温度

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), マイクロキャビティ周波数

  • JIS R 1627:1996 ファインセラミックスのマイクロ波周波数における誘電特性の試験方法
  • JIS R 1641:2002 マイクロ波周波数におけるファインセラミック板の誘電特性の試験方法
  • JIS R 1641:2007 マイクロ波周波数におけるファインセラミックスシートの誘電特性の試験方法
  • JIS R 1660-2:2004 ファインセラミックスのミリ波周波数領域における誘電特性の測定方法 第2部：開放空洞共振器法
  • JIS H 7307:2005 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • JIS H 7307:2010 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗

American National Standards Institute （ANSI), マイクロキャビティ周波数

  • ANSI/ASTM D5568:2008 マイクロ波周波数における固体材料の複合比誘電率および比透磁率を測定する試験方法
  • ANSI/ASTM A893:1997 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の試験方法
  • ANSI/ASTM D7449:2008 同軸線伝送線路を用いたマイクロ波周波数における固体材料の複素比誘電率および比透磁率の測定試験方法
  • ANSI/ASTM D2520:2013 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の総合誘電率の新しい標準試験方法

United States Navy, マイクロキャビティ周波数

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, マイクロキャビティ周波数

  • ECA TEP 171-1972 マイクロ波管の高周波漏れ測定と警報の推奨方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), マイクロキャビティ周波数

  • ASTM D5568-01 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5568-95 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5568-22a マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5568-08 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5568-14 導波管を使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM A893/A893M-03 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の標準試験方法
  • ASTM A893/A893M-03(2022) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の標準試験方法
  • ASTM D7449/D7449M-14 同軸空気ラインを使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM A893-97 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM A893/A893M-03(2008) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM A893/A893M-03(2015) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM D5568-22 導波管を使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM D2520-13 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM D7449/D7449M-22 同軸空気ラインを使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM D7449/D7449M-22a 同軸空気ラインを使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM D2520-95 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM D2520-01 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
  • ASTM D7449/D7449M-08e1 同軸空気ラインを使用したマイクロ波周波数での固体材料の比複素誘電率と比透磁率の標準試験方法
  • ASTM D7449/D7449M-08 同軸空気ラインを使用したマイクロ波周波数での固体材料の比複素誘電率と比透磁率の標準試験方法
  • ASTM D2520-21 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の複素誘電率 (誘電率) の標準試験方法

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), マイクロキャビティ周波数

  • ETSI TR 103730 V 1.1.1-2021 システムリファレンスドキュメント (SRdoc) 低周波マイクロ波セキュリティスキャナ (MWSSc) 周波数範囲 3.6 GHz ～ 12.4 GHz
  • ETSI TR 103 730-2021 システムリファレンスドキュメント (SRdoc)、低周波マイクロ波セキュリティスキャナ (MWSSc) 周波数範囲 3.6 GHz ～ 12.4 GHz (V1.1.1)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, マイクロキャビティ周波数

  • EN 60556:2006 マイクロ波周波数で使用する磁気回転材料、特性の測定方法 IEC 60556:2006
  • EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • EN 61788-7:2006 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • EN IEC 61788-7:2020 超伝導パート 7: マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の電子特性測定
  • EN 61338-1-5:2015 導波管型誘電体共振器 第 1-5 部：一般情報と試験条件 マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板との界面の導電率の測定方法

Danish Standards Foundation, マイクロキャビティ周波数

  • DS/EN 60556:2006 マイクロ波周波数での使用を目的とした磁気回転材料の特性を測定する方法
  • DS/EN 60747-16-3/A1:2009 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • DS/EN 60747-16-3:2002 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ
  • DS/EN 61788-16:2013 超伝導パート 16: 電子特性 マイクロ波周波数における超伝導体の電力依存表面抵抗の測定
  • DS/EN 61788-7:2007 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での超伝導体の表面抵抗の測定
  • DS/EN 61788-15:2012 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定
  • DS/IEC 122-2-1:1993 周波数制御と選択のための水晶コンポーネント。 パート 2: 周波数制御と選択のための水晶コンポーネントの使用に関するガイド。 セクション 1: マイクロプロセッサ クロック ジェネレータ用の水晶コンポーネント

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • DB50/T 719-2016 433MHz周波数帯における微小電力無線通信機器の物理層性能試験の仕様書

Professional Standard - Post and Telecommunication, マイクロキャビティ周波数

  • YD/T 4179-2023 30MHz～1GHz微小電力近距離無線送信装置のRF試験方法
  • YD/T 4178-2023 9kHz～30MHz微小電力近距離無線送信装置の高周波試験方法
  • YD/T 4180-2023 1GHz～40GHzの微小電力近距離無線送信装置のRF試験方法

Lithuanian Standards Office , マイクロキャビティ周波数

  • LST EN 60556-2006 マイクロ波周波数用途のための磁気回転材料の特性を測定する方法 (IEC 60556:2006)
  • LST EN 61788-7-2007 超電導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗の測定 (IEC 61788-7:2006)
  • LST EN 61788-15-2012 超電導パート 15: 電子特性 マイクロ波周波数における超電導膜の固有表面インピーダンスの測定 (IEC 61788-15:2011)

NZ-SNZ, マイクロキャビティ周波数

  • AS/NZS 4052:1992 1 GHz を超える周波数で電子レンジからの放射線を測定するための代替方法の使用に関するガイダンス

ZA-SANS, マイクロキャビティ周波数

  • SANS 219:2005 GHz を超える周波数で電子レンジからの放射線を測定するための代替方法の使用に関するガイドライン

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • CNS 7634-1981 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の試験方法
  • CNS 12711-1990 3MHz 未満の周波数のプリント基板コネクタを使用するマイクロプロセッサ システムのピン構成

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., マイクロキャビティ周波数

  • IEEE C95.3-1973 マイクロ波周波数で潜在的に危険な電磁放射を測定するための技術と機器 (R 1979)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), マイクロキャビティ周波数

  • IEEE 287.2-2021 無線、マイクロ波、およびミリ波の周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 推奨実施方法 パート 2: テスト手順
  • IEEE Std 287.2-2021 無線、マイクロ波、およびミリ波の周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 推奨実施方法 パート 2: テスト手順
  • IEEE P287.2/D8, May 2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 草案の推奨実施方法 パート 2: テスト手順
  • IEEE P287.2/D10, August 2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 草案の推奨実施方法 パート 2: テスト手順
  • ANSI Std C95.3-1973 マイクロ波周波数における潜在的に有害な電磁放射線の測定のための米国国家標準技術および機器
  • IEEE/ANSI C95.3-1973 マイクロ波周波数における潜在的に有害な電磁放射線の測定のための米国国家標準技術および機器
  • IEEE 287.1-2021 無線、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 規格パート 1: 一般要件、定義、および詳細仕様
  • IEEE Std 287.1-2021 無線、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 規格パート 1: 一般要件、定義、および詳細仕様
  • IEEE P287.1/D11, October 2021 無線、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 草案規格パート 1: 一般要件、定義、および詳細仕様
  • IEEE P287.1/D8, May 2021 無線、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 草案規格パート 1: 一般要件、定義、および詳細仕様
  • IEEE P287.1/D10, August 2021 無線、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 草案規格パート 1: 一般要件、定義、および詳細仕様
  • IEEE 287.3-2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 推奨実践パート 3: コネクタの影響、不確かさの仕様、および性能の推奨事項
  • IEEE Std 287.3-2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE 推奨実践パート 3: コネクタの影響、不確かさの仕様、および性能の推奨事項
  • IEEE P287.3/D8, May 2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE ドラフト推奨実践パート 3: コネクタの影響、不確かさの仕様、および性能の推奨事項
  • IEEE P287.3/D10, August 2021 RF、マイクロ波、およびミリ波周波数における高精度同軸コネクタに関する IEEE ドラフト推奨実践パート 3: コネクタの影響、不確かさの仕様、および性能の推奨事項

VN-TCVN, マイクロキャビティ周波数

  • TCVN 7187-2002 代替方法を使用して 1 GHz を超える周波数で電子レンジによって生成される放射線を測定するためのガイドライン

AT-ON, マイクロキャビティ周波数

  • ONORM S 1120-1992 マイクロ波および高周波電磁場。 30 kHz ～ 3000 GHz の周波数範囲における個人保護のための暴露許容限界 (測定値)
  • ONORM S 1120/AC1-1998 マイクロ波および高周波電磁場。 周波数範囲 30 kHz ～ 3000 GHz における個人保護のための暴露許容限度、測定値 (正誤表)

Group Standards of the People's Republic of China, マイクロキャビティ周波数

  • T/RAC 013-2018 微小電力近距離無線送信装置 RF試験方法 その1：9kHz～30MHz
  • T/RAC 015-2018 マイクロパワー短距離無線送信装置のRF試験方法その3：1GHz～40GHz
  • T/RAC 014-2018 微小電力近距離無線送信装置 RF試験方法その2：30MHz～1GHz

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, マイクロキャビティ周波数

  • EN 61788-7:2002 超電導 パート 7: 電気的特性の測定 マイクロ波周波数における超電導体の表面抵抗
  • EN 61788-15:2011 超電導パート 15: マイクロ波周波数における超電導薄膜の固有表面インピーダンスの電子特性測定

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, マイクロキャビティ周波数

  • ITU-R P.452-9-1999 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-7-1995 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R PN.452-5-1992 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-8-1997 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-10-2001 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-13-2007 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-11-2003 約 0.7 GHz を超える周波数における地表上のステーション間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順 (ITU-R Question 208/3)

IX-CISPR, マイクロキャビティ周波数

  • CISPR 19-1983 GHz を超える周波数で電子レンジからの放射線を測定するための代替方法の使用に関するガイダンス

IEC - International Electrotechnical Commission, マイクロキャビティ周波数

  • IEC 60747-16-3:2017 半導体デバイス パート 16-3: マイクロ波集積回路周波数コンバータ (バージョン 1.2、統合再版)
  • PAS 61338-1-5-2010 導波管型誘電体共振器 第 1-5 部：一般情報および試験条件 マイクロ波周波数における導体層と誘電体基板との界面の導電率の測定方法（バージョン 1.0）

API - American Petroleum Institute, マイクロキャビティ周波数

  • API PUBL 32-32855-1985 90日間ベンゼンに化学的に曝露された雄および雌のCD-1マウスの末梢血における小核頻度の評価

未注明发布机构, マイクロキャビティ周波数

  • BS EN 61788-15:2011(2012) 超伝導パート 15: 電子特性の測定 – マイクロ波周波数における超伝導薄膜の固有表面インピーダンス

International Telecommunication Union (ITU), マイクロキャビティ周波数

  • ITU-R PN.452-6-1994 約 0.7 GHz を超える周波数における地上局と地表の間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順
  • ITU-R P.452-12-2005 約 0.7 GHz を超える周波数における地上局と地表の間のマイクロ波干渉を評価するための予測手順

PL-PKN, マイクロキャビティ周波数

  • PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E 超伝導パート 7: 電子特性 マイクロ波周波数での高温超伝導体の表面抵抗の測定 (IEC 61788-7:2020)

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