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실리콘 웨이퍼 분석

모두 6항목의 실리콘 웨이퍼 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 실리콘 웨이퍼 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 소재, 분석 화학, 집적 회로, 마이크로 전자공학.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 실리콘 웨이퍼 분석

• ASTM F1726-97 실리콘 웨이퍼의 결정학적 무결성 분석을 위한 표준 지침

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 실리콘 웨이퍼 분석

• KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

KR-KS, 실리콘 웨이퍼 분석

• KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리콘 웨이퍼 분석

• GB/T 30701-2014 표면 화학 분석: 실리콘 웨이퍼 작업 표준 샘플의 표면 원소에 대한 화학 포집 방법 및 전반사 X선 형광 분광법(TXRF) 측정

International Organization for Standardization (ISO), 실리콘 웨이퍼 분석

• ISO 17331:2004/Amd 1:2010 표면 화학 분석 화학적 방법 및 광학 분석기(TXRF) 분광 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼 처리 표준 재료 표면 요소 수집 수정 1

German Institute for Standardization, 실리콘 웨이퍼 분석

• DIN 51456:2013 반도체 기술용 재료 테스트 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 사용한 수분 분석 솔루션의 다원소 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 표면 분석

기타:   실리콘 회로, 실리콘 웨이퍼, 샘플 실리콘 웨이퍼, 실리콘 웨이퍼 스펙트럼, 실리콘 웨이퍼 스펙트럼, 실리콘 웨이퍼 샘플, 실리콘 웨이퍼 적외선, 실리콘 웨이퍼 분석, 실리콘 웨이퍼 소재, 실리콘 웨이퍼 분석, 실리콘 웨이퍼 테스트, 실리콘 웨이퍼 테스트, 금 실리콘 웨이퍼, 실리콘 웨이퍼 스캔, 실리콘 웨이퍼 검사, 실리콘 웨이퍼 골드, 실리콘 웨이퍼 전환, 실리콘 웨이퍼 탄소, 실리콘 웨이퍼 도금, 실리콘 웨이퍼 절단.