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투과전자현미경의 교정

모두 28항목의 투과전자현미경의 교정와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 투과전자현미경의 교정와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 공기질, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 계측 및 측정 합성, 광학 장비, 기르다, 금속 재료 테스트, 광전자공학, 레이저 장비, 기술 도면.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 투과전자현미경의 교정

• ASTM D6056-96(2011) 작업 조건에서 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 투과 전자 현미경으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
• ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
• ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 투과전자현미경의 교정

• JJG(地质) 1016-1990 투과전자현미경 교정 절차
• JJG(教委) 12-1992 투과전자현미경 교정 절차

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경의 교정

• GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

Professional Standard - Machinery, 투과전자현미경의 교정

• JB/T 9352-1999 투과전자현미경 시험 방법
• JB/T 5383-1991 투과전자현미경 기술 조건
• JB/T 5584-1991 투과전자현미경 배율 시험방법
• JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법
• JB/T 5586-1991 투과전자현미경 분류 및 기본 매개변수

Group Standards of the People's Republic of China, 투과전자현미경의 교정

• T/CSTM 00162-2020 투과전자현미경 교정방법

Professional Standard - Education, 투과전자현미경의 교정

• JY/T 011-1996 투과전자현미경 방법의 일반 원리
• JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙

International Organization for Standardization (ISO), 투과전자현미경의 교정

• ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
• ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
• ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
• ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.

British Standards Institution (BSI), 투과전자현미경의 교정

• BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
• BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 투과전자현미경의 교정

• GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
• GB/T 21637-2008 코로나바이러스 투과전자현미경 형태학적 동정방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 투과전자현미경의 교정

• KS D 2716-2008(2018) 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
• KS D 2716-2008 나노입자 직경 측정 기술 투과전자현미경

KR-KS, 투과전자현미경의 교정

• KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경

工业和信息化部, 투과전자현미경의 교정

• YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 투과전자현미경의 교정

• DB31/T 315-2004 투과전자현미경 배율 교정 방법

기타:   투과전자현미경의 구조, 투과전자현미경 전자, 투과전자현미경, 투과전자현미경의 분류, 투과전자현미경 측정 방법, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절, 투과전자현미경의 세 가지 대조, 투과전자현미경 샘플, 투과전자현미경 샘플, 전송 교정, 투과전자현미경 검출, 투과전자현미경의 4가지 대조, 투과전자현미경의 기원, 투과전자현미경의 주요구조, 투과전자현미경 작동, 투과전자현미경의 대조, 전송 교정용, 고해상도 투과전자현미경의 구조, 투과전자현미경의 교정, 투과전자현미경 매개변수.